可編程高低溫試驗箱恒溫恒濕交變循環(huán)測試箱宇航志達(dá)小型高低溫恒溫恒溫試驗箱高低溫試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下

貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐

寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感

、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗。

可編程高低溫試驗箱恒溫恒濕交變循環(huán)測試箱宇航志達(dá)小型高低溫恒溫恒溫試驗箱規(guī)格參數(shù)
內(nèi)部尺寸（W×H×D）50×60×50cm
外部尺寸：（W×H×D）110×146×127cm
溫度范圍：-20℃～+150℃    
濕度范圍：20%～98%RH     
溫度波動度：≤±0.5℃     
濕度波動度：≤ ±3.0%RH  
溫度均勻度：≤±2.0℃     
濕度均勻度：≤ ±2.5%RH   
溫度**度：0.01          
濕度**度：0.1    
升溫速度：約5.2℃/分鐘    
降溫速度：約1.2℃/分鐘

高低溫試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

   GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗。A：低溫試驗方法、試驗B：高溫試驗方法》.
三、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件；
2.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術(shù)條件；
3.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
4.GB2423.1低溫試驗、試驗A

5.GB2423.2高溫試驗、試驗B. GB/T2423.34-2005高、低、溫度組合循環(huán)試驗。